耐刮傷性試驗(yàn)儀應(yīng)用領(lǐng)域-上海程斯智能科技有限公司

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耐刮傷性試驗(yàn)儀應(yīng)用領(lǐng)域

更新時(shí)間：2021-03-03　點(diǎn)擊量：540

耐刮傷性試驗(yàn)儀

耐刮傷性試驗(yàn)儀其應(yīng)用領(lǐng)域包括：剛性有機(jī)材料、涂料黏膠劑、粉末涂料，陽極氧化材料，軟金屬，塑料和玻璃等，也能用于測試同種材料、防護(hù)涂料的粘膠劑質(zhì)量及類似材料的極限性能。儀器由平衡桿、固定砝碼、調(diào)節(jié)砝碼、載樣圓盤等組成。試驗(yàn)前需根據(jù)試樣的厚度調(diào)節(jié)平衡桿的高度，使平衡桿中部安裝刮擦頭并且試樣安裝于載樣圓盤后，平衡桿能夠保持水平。試驗(yàn)過程中，固定砝碼不動，移動調(diào)節(jié)砝碼控制壓在試樣上的重量。隨著載樣圓盤的逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，刮擦頭在試樣表面留下弧形刻痕。

1.1 測試標(biāo)準(zhǔn)
此款耐劃傷測試儀儀符合下列標(biāo)準(zhǔn)：
lAS/NZS AS2924.2
lASTM C217
lBS EN 438.2
lBS EN 13310
lBS EN 14323
lDIN 68861-4
lDIN 53799

1.2 測試原理
將試樣放置于厚度控制裝置凹槽內(nèi)，調(diào)節(jié)螺母位置。將試樣安裝在可旋轉(zhuǎn)圓形平臺上，并用壓塊及螺母固定。將刮擦頭安裝與秤桿中部對應(yīng)凹槽內(nèi)。旋轉(zhuǎn)平衡桿，使刮擦頭頭部與試樣剛好接觸。啟動儀器，圓盤運(yùn)動，刮擦頭在試樣表面留下刮痕。

1.3 儀器結(jié)構(gòu)與功能
平衡桿調(diào)節(jié)部件：本部分包括厚度控制裝置，高度調(diào)節(jié)螺母，前后位置調(diào)節(jié)螺母，平衡桿組成。平衡桿的高度由試樣的厚度決定。試驗(yàn)前將試樣插入厚度控制裝置凹槽內(nèi)，通過調(diào)節(jié)高度調(diào)節(jié)螺母，使試樣恰好卡在凹槽內(nèi)。當(dāng)試樣安裝于圓形載樣平臺，摩擦頭裝入平衡桿后，其頭部頂住試樣，此時(shí)，平衡桿基本保持平行，只需微調(diào)即可(放置水平泡看是否水平)。
部分標(biāo)準(zhǔn)中要求試驗(yàn)結(jié)果為不同半徑的同心圓，調(diào)節(jié)前后位置控制螺母控制刮擦頭與載樣
圓盤中心的距離，從而產(chǎn)生不同半徑的刻痕。
壓力調(diào)節(jié)部件：本部分包括固定砝碼，移動砝碼，平衡桿。平衡桿上標(biāo)有0-500的刻度，每一格代表10g壓力。使用時(shí)，移動砝碼中間刻線對準(zhǔn)平衡上刻度線，則在試樣表面施加的壓力為刻線所示壓力。
載樣部件：本部分由載樣圓盤，固定片，固定螺帽組成。將試樣放置在載樣圓盤上再用固定片壓住，用螺母固定即可。
控制部件：包括計(jì)數(shù)器、啟動按鈕、暫停按鈕及電源開關(guān)組成。

試驗(yàn)步驟
試樣制備，標(biāo)準(zhǔn)中試樣尺寸為100mm*100mm的正方形片，四周棱角，中部開有一直徑為6.5的開孔，如下圖所示
將試樣放入厚度控制裝置處，調(diào)節(jié)上端螺栓使試樣的上表面和厚度控制裝置的下表面接觸。
取下試樣將試樣將其放在測試盤上，擰緊試樣上面的螺帽，放下平衡桿，將水平氣泡放于平衡桿上，看平衡桿是否水平，如若沒水平則需調(diào)節(jié)后端螺栓使其氣泡達(dá)到水平
移動右端砝碼到需要的壓力位置，擰緊砝碼后端的螺栓使其在運(yùn)行過程中不發(fā)生移動。
通電，選擇實(shí)驗(yàn)的運(yùn)行圈數(shù)，按下開始按鈕，進(jìn)行試驗(yàn)。
Taber 551刮傷試驗(yàn)儀在裝樣品之前，需要先根據(jù)樣品厚度調(diào)整秤桿至合適高度。在秤桿上的安裝好精密切削工具并置于樣品上。啟動儀器，轉(zhuǎn)臺以恒定轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動確保測量結(jié)果準(zhǔn)確。通過改變切削工具的荷重，您可以評估材料的抗剪切或者刮傷性能。
Taber 551刮傷試驗(yàn)儀儀器的秤桿設(shè)計(jì)使得它能夠與樣品和轉(zhuǎn)臺水平，并且可以根據(jù)實(shí)際需要要升高或者降低。另外，秤桿還可以抬起懸于空中以方便操作者移走樣品。通過改變滑動砝碼的位置，樣品上的總荷重在0-1000g范圍可調(diào)整。切削工具可以選擇使用碳化鎢或者圓錐形頭。
Taber 551刮傷試驗(yàn)儀測試結(jié)果可用隨機(jī)配備的10倍放大鏡目測判定，用戶也可使用高精度光學(xué)顯微鏡觀測

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